MICRO ESPECTROSCOPÍA RAMAN CONFOCAL

 

La espectroscopia Raman aprovecha la dispersión inelástica de la luz para obtener información sobre los estados vibracionales de los enlaces moleculares.

Por otro lado el acoplamiento de dicha técnica a un microscopio óptico permite la realización de cartografía con resoluciones espaciales del orden de la micra.

El Servicio de Caracterización del ICTP, dispone de un Microscopio Raman Confocal del tipo Renishaw InVia Reflex.

( Renishaw PLC, Wotton-under-Edge, UK).

Renishaw Raman Microscope

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DETALLES TÉCNICOS DEL EQUIPO:

- Fuentes de radiación láser:

. Argon - 514.5 nm.  (Zona visible). Filtro tipo EDGE.

. Diodo - 785 nm. (IR cercano). Filtro tipo NOTCH.

- Redes de difracción: Optimizadas para las regiones de Visible e IR cercano: 1200 líneas/mm, 1800 líneas/mm y 3000 líneas/mm.

- Resolución espectral: Estándar de al menos 3 cm-1 y máxima de al menos 1 cm-1 (en función de la red de difracción para un láser en la región del visible).

- Confocalidad: Permite realizar medidas de perfiles en profundidad.

- Resolución espacial lateral mejor o igual a 1 mm, resolución espacial en profundidad mejor o igual a 2 mm (utilizando radiación a 514,5 nm y un objetivo de 100x).

- Sistema de autofoco (Focus Track) mediante imagen visible.

- Portaobjetivos rotatorio manual:

Objetivos estándar: 5x, 20x, 50x, 100x (0,90), 100x (0,85)

Objetivos de larga distancia 5x y 50x (15,0).

- Sistema polarizador y analizador para la luz blanca reflejada y transmitida en el microscopio óptico.

 

- Opción para irradiar la muestra solamente durante el tiempo de análisis; consiguendo así minimizar posibles efectos de fotodegradación en la muestra.

- Sistema controlador, accionado vía software, que permite mapeo Raman puntual, y mapeo rápido mediante modos de barrido en línea o Stream Line.

- Celda de temperatura: Con rango de temperaturas entre -150ºC a 600ºC.

-Set Macro Kit: Para muestras de gran tamaño y en disolución.

-Filtro NexT: Para medidas a bajas frecuencias. Aproximadamente 10 cm-1.

 

Espectro de Polipropileno (Láser 785 nm)

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REQUISITOS QUE DEBE CUMPLIR LA MUESTRA:

- Se trata de un técnica no destructiva ni intrusiva.

- La muestra no necesita preparación previa. Las medidas se realizan en tiempo real.

- Las muestras pueden ser:

- Líquidas , sólidas (en polvo o en filme) o en disolución.

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Mapa sobre un chip de Si (Barra de escala 10 micras)

 

HOJA DE SOLICITUD

Técnico responsable: Mª ISABEL MUÑOZ OCHANDO

Contacto: iochando@ictp.csic.es . Teléfono: 91.562.29.00 Extensión: 438/ 434.

Asesor científico: GARY ELLIS

Contacto:gary@ictp.csic.esTeléfono: 91.562.29.00 Extensión: 310