El Instituto de Ciencia y Tecnología de Polímeros dispone de un Microscopio de Fuerza Atómica (AFM) de la casa Veeco, del tipo MultiMode SPM con controlador Nanoscope IVa. 
En los últimos años, este tipo de microscopía se ha consolidado como técnica fundamental en el estudio de superficies de muestras tanto conductoras como aislantes.

Las principales ventajas con respecto a otras microscopías son:

- Su resolución atómica

- La sencilla preparación de muestras

- Ser una técnica no destructiva.

AFM Multimode SPM de Veeco

Esta técnica se basa en las interacciones atómicas que tienen lugar entre la superficie de la muestra en estudio y una punta, durante el movimiento de barrido.
En contacto con la superficie de la muestra, la palanca donde va colocada la punta, se deforma en función de su topografía; detectándose esa deformación mediante un fotodiodo sobre el que incide el reflejo de un haz láser dirigido sobre la palanca.

Un sistema de retroalimentación se encarga de acercar o alejar la muestra mediante un cristal piezoeléctrico situado debajo de la muestra, de tal forma que la deformación de la palanca es constante.

La imagen se obtiene al registrar los desplazamientos que el piezoeléctrico realiza para mantener constante la fuerza que la palanca ejerce sobre la muestra en cada punto de la superficie barrida.

El AFM del Servicio de Caracterización del ICTP permite trabajar en modo contacto y oscilante o Tapping.

Es posible la realización de los siguiente estudios:

. Con temperatura: empleando el controlador de aplizaciones térmicas. Permite calentar la muestra hasta 160ºC, pero no enfriar.

. De potencial: utilizando puntas específicas.

En un futuro se espera poder realizar medidas con la celda de líquidos.

Una vez capturadas las imágenes se pueden tratar para obtener más información, tal como:

. Medidas de sección: Se pueden realizar cortes en la imagen para obtener el perfil y obtener medidas de tamaños o profundidad.

. Rugosidad: Se puede conocer la rugosidad de toda la imagen o una zona concreta mediante el parámetro Rq (Rms).

. Imagen en 3D: Obtener la imagen en tres dimensiones teniendo en cuenta también la profundidad.

Imagen de AFM de la superficie de una plantilla porosa de alúmina anódica

REQUISITOS DE LAS MUESTRAS:

Es necesario que las muestras estén limpias y sean muy planas, con desniveles inferiores a 1 micra.

No se pueden medir muestras en polvo.

Dimensiones de la muestra:

- Diámetro máximo de la muestra o soporte: 15mm
- Espesor: hasta 4 mm

Estudios de temperatura:
- Hasta 160ºC

PUNTAS DISPONIBLES:

Tapping:

Modelo RTESP7(Veeco)
 f:265-309 KHz; K:20-80 N/m

Potencial:

Modelo MESP (Veeco)
f:60-100 KHz; K:1-5 N/m

ACCESORIOS:

Controlador para aplicaciones térmicas (TAC) y celda de líquidos.

HOJA DE SOLICITUD

Técnicos responsables: PILAR POSADAS BERNAL

Contacto: pposadas@ictp.csic.es. Teléfono: 91.562.29.00 Extensión: 921434.