DIFRACCIÓN DE RAYOS X

 

La difracción de Rayos X es una técnica no destructiva muy útil para la caracterización estructural de los materiales. En ella un haz de rayos X monocromático incidente se desvía de su dirección original por interacción con el material irradiado.

Se basa en la relación establecida por Bragg entre el ángulo de incidencia de la radiación (Θ), su longitud de onda (λ) y la distancia entre planos cristalinos del material.

nλ=2dsenΘ

rx1

 

El laboratorio de difracción de rayos X del Instituto de Ciencia y Tecnología de Polímeros dispone de un equipo Bruker D8 Advance dotado de una fuente de rayos X con blanco de cobre, con espejo de Göbel (haz paralelo), pudiendo trabajar con un detector de centelleo o Vantec.

El tipo Vantec es un detector de posición que ofrece una alta sensibilidad para un tiempo de medida muy corto permitiendo el análisis in situ de reacciones o transiciones de fases cristalinas.
El método utilizado es el de polvo policristalino. Los ensayos pueden realizarse en el intervalo de ángulos de 2Θ≥1 (WAXS).

El equipo dispone de una cámara de temperatura que permite estudiar los cambios en la estructura cristalina de un material tanto en condiciones isotérmicas como en condiciones dinámicas en un intervalo de temperatura que va desde -80ºC hasta 250ºC.

 

 

Con este dispositivo el intervalo de ángulos en los se puede realizar los ensayos es de 2Θ≥3º.

rx2

 

Procesos de fusión / Cristalización

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TIPO DE MUESTRAS:

Filmes, líquidos, geles y polvos no estáticos.

Con la cámara de temperatura no se realizarán medias de muestras en polvo.

 

HOJA DE SOLICITUD

Técnico responsable: PEDRO GONZÁLEZ PÉREZ

Contacto: p.gonzalez@csic.es Teléfono: 91.562.29.00 Extensión: 479

Asesor científico: ERNESTO PÉREZ TABERNERO

Contacto: ernestop@ictp.csic.es Teléfono: 91.562.29.00 Extensión: 317.