MICROSCOPÍA ELECTRÓNICA DE BARRIDO

La microscopía electrónica de barrido es una de las técnicas más versátiles para el estudio de superficies de distintos materiales gracias a la combinación de elevada resolución y gran profundidad de campo. Mediante este tipo de microscopios podemos observar distintos objetos de tamaños que van desde aproximadamente unos milímetros hasta unos cuantos nanómetros.

 

Equipo: MICROSCOPIO ELECTRÓNICO DE BARRIDO AMBIENTAL (MEBA).

PHILIPS: Modelo XL30 con filamento de tungsteno.

DESCRIPCIÓN DE LA TÉCNICA:

. Modo alto vacío: (Semejante a modo convencional). Se utiliza para muestras secas y conductoras.

En el caso de muestras no conductoras, se metalizan con una capa fina de metal en su superficie. El Instituto dispone del equipamiento necesario para metalizar.

Caucho reforzado con fibra. Modo alto vacío.

. Modo bajo vacío: Requiere una presión de trabajo comprendida entre 2 y 5 torr en la cámara de la muestra. Se utiliza en el caso de muestras secas y no conductoras.

Fibras de colesterol. Modo bajo vacío.

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. Modo húmedo: Requiere una presión de vapor de agua comprendida entre 4 y 10 torr. Se utiliza para muestras líquidas o húmedas, manteniendo la temperatura de la muestra entre 3 y 5ºC.

Plaquetas sanquíneas sobre polímero. Modo "húmedo".

 

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Equipo: MICROSCOPIO ELECTRÓNICO DE BARRIDO DE ALTA RESOLUCIÓN.

Hitachi: Modelo S-8000 con filamento de emisión de campo.

DESCRIPCIÓN DE LA TÉCNICA:

Este microscopio, de reciente adquisición por parte del Instituto, permite el estudio y caracterización de muestras con  detalles muy pequeños, de unos pocos nanómetros.


Puede funcionar de varias maneras, pero siempre en alto vacío y con muestras secas.


-Las muestras conductoras no presentan restricción alguna en cuanto a las condiciones de medida.


-Las muestras no conductoras necesitan condiciones de bajo voltaje, o bien, depositar previamente sobre la muestra una fina lámina de metal para tratarla como si fuese conductora.


-Para muestras delgadas existe el modo de electrones transmitidos. Se necesita preparar la muestra en una rejilla de forma similar a como lo requieren las medidas en microscopio electrónico de transmisión.

Plantilla de alúmina porosa.

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El microscopio está equipado con 4 detectores, lo que permite realizar imágenes de electrones transmitidos (en campo claro y campo oscuro), de electrones secundarios y de electrones retrodispersados; así como también, combinaciones de éstos dos últimos.

Esferas de PLGA (Poly Lactic-co-glycoluc acid)

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También dispone de un sistema de microanálisis  por energías dispersivas de rayos X marca Bruker modelo Quantax 200.

Para la metalización de las muestras, el Instituto dispone de varios equipos accesorios.


-Sputter coater Polaron SC7640 con blanco de Au/Pd y Au.
-Sputter coater Quorum Tech Q 150T ES con blanco de Cr.

HOJA DE SOLICITUD

 

Técnico responsable: PILAR POSADAS BERNAL

Contacto: pposadas@ictp.csic.es

Teléfono: 91.562.29.00 Extensión: 479 / 385.

 

Técnico responsable: DAVID GÓMEZ VARGA.

Contacto: davidg@ictp.csic.es

Teléfono: 91.562.29.00 Extensión: 417 / 383.